一、產(chǎn)品介紹

   光電檢測實(shí)驗(yàn)設(shè)備-光電成像基礎(chǔ)與應(yīng)用實(shí)訓(xùn)平臺包括CCD和CMOS兩大方面，這兩方面原理與應(yīng)用是《光電技術(shù)》和《圖像傳感器應(yīng)用技術(shù)》課程重要章節(jié)，也是教學(xué)的難點(diǎn)章節(jié)，因此，monxyuan開發(fā)了光電檢測實(shí)驗(yàn)設(shè)備-光電成像基礎(chǔ)與應(yīng)用實(shí)訓(xùn)平臺。該平臺采用搭建式、開放式設(shè)計(jì)，直觀展現(xiàn)了線陣CCD、面陣CCD和CMOS的工作原理，并且設(shè)置了工程實(shí)際檢測的相關(guān)實(shí)驗(yàn)。

二、教學(xué)目的

1、了解并掌握線/面陣CCD和CMOS的原理；

2、了解線/面陣CCD和CMOS的軟件使用方法；

3、了解并掌握面陣CCD和CMOS信號處理方法；

4、了解并掌握運(yùn)用面陣CCD和CMOS進(jìn)行尺寸測量和圖像處理的方法；

5、了解并掌握學(xué)生掌握線陣CCD的幾種典型的應(yīng)用；

三、實(shí)驗(yàn)內(nèi)容

1、面陣CCD 原理與驅(qū)動實(shí)驗(yàn)；

2、面陣CCD 數(shù)據(jù)采集與計(jì)算機(jī)接口實(shí)驗(yàn)；

3、面陣CCD 邊緣與輪廓檢測；

4、面陣CCD物體尺寸測量實(shí)驗(yàn)；

5、面陣CCD 圖像的點(diǎn)運(yùn)算；  

6、面陣CCD 圖像的幾何變換；

7、面陣CCD 圖像采集與參數(shù)設(shè)置；

8、面陣CCD 投影與差影圖像分析；

9、面陣CCD 圖像的濾波與增強(qiáng)；

10、面陣CCD 形態(tài)學(xué)處理；

11、面陣CCD 旋轉(zhuǎn)與縮放；

12、面陣CCD 顏色識別與變換；

13、面陣CCD圖像采集程序設(shè)計(jì)；

14、線陣CCD 工作原理與驅(qū)動波形觀測；

15、線陣CCD 模擬輸出信號的調(diào)整；

16、通過采集卡對線陣CCD的模擬輸出信號進(jìn)行A/D轉(zhuǎn)換和數(shù)據(jù)采集；

17、通過軟件浮動閾值對CCD的輸出信號進(jìn)行二值化處理；

18、利用線陣CCD 對物體尺寸進(jìn)行非接觸的實(shí)時測量；

19、利用線陣CCD 對物體的角度進(jìn)行測量；

20、利用線陣CCD 測量物體的振動；

21、利用線陣CCD識別一維條形碼；

22、利用線陣CCD掃描物體的二維圖像；

23、利用外置相機(jī)進(jìn)行實(shí)物尺寸測量

24、用硬件提取邊緣信號的二值化

25、CMOS原理與驅(qū)動實(shí)驗(yàn)；

26、CMOS數(shù)據(jù)采集實(shí)驗(yàn)；

27、CMOS圖像采集程序設(shè)計(jì)

28、CMOS用于邊緣與輪廓檢測實(shí)驗(yàn)；

29、CMOS用于物體的尺寸測量實(shí)驗(yàn)；

30、CMOS用于圖像采集與參數(shù)設(shè)置實(shí)驗(yàn)；

31、CMOS用于投影與差影圖像分析實(shí)驗(yàn)；

32、CMOS用于圖像的濾波與增強(qiáng)實(shí)驗(yàn)；

33、CMOS用于顏色識別與變換實(shí)驗(yàn)；

34、擴(kuò)展性實(shí)驗(yàn)

（1）通過提供的CPLD程序，學(xué)生可以了解CPLD對外圍器件的控制；

（2）有能力的學(xué)生還可以自己編程來產(chǎn)生方波；

（3）通過提供的SDK和DEMO程序，編寫程序來采集擴(kuò)展相機(jī)的數(shù)字信號；

（4）利用擴(kuò)展相機(jī)并編寫軟件進(jìn)行其他如尺寸測量等實(shí)驗(yàn)等；

36、墨水屏不同工作狀態(tài)的功耗測量實(shí)驗(yàn)；

37、墨水屏驅(qū)動顯示實(shí)驗(yàn)；

38、手勢控制墨水屏翻頁實(shí)驗(yàn)；

四、配套文件資料

1、實(shí)驗(yàn)指導(dǎo)書1本；

2、實(shí)驗(yàn)軟件1套；

客戶自行配置電腦及示波器